Tipkovnice
en source to wafer distance
en source-to-wafer distance
en source to film distance
en source to object distance
en distance from wafer to X-ray source
en emission limit from the disturbing source
en emission level of the disturbing source
en scan, scanning of the source, scanning
en scanning of the source, scanning
en drain-source spacing
Obvestilo o uporabi piškotkov
Trenutno imate izkljopljeno uporabo ne-nujnih piškotkov.
Ta stran uporablja piškotke. Z nadaljevanjem uporabe te strani soglašate z uporabo nujnih piškotkov. Za ne-nujne piškotke podajte izrecno soglasje.
Več o piškotkih
Dostopnost
Dostopnost