mikroskop [grško mikros, ‘majhen’ + skopein, ‘opazovati’], naprava za opazovanje zelo majhnih predmetov. Optični mikroskop sestavljajo kovinska cev (tubus) in dva sklopa leč. Objektiv, ki je obrnjen proti predmetu (objektu), deluje kot zbiralna leča in ustvari realno, povečano in obrnjeno sliko predmeta. Okular je na strani opazovalca in deluje kot lupa, ki ustvari pravilno obrnjeno navidezno sliko. Povečano sliko lahko opazujemo ali posnamemo na fotografsko ploščo, zaslon ali videokamero. Predmet opazovanja je nameščen na nosilec predmeta, ki ga z vijaki lahko natančno premikamo. Osvetljujemo lahko na dva načina. Pri nekaterih mikroskopih predmet osvetljujemo od zgoraj in opazujemo od površine odbito svetlobo. Za opazovanje skoraj prozornih predmetov je pod predmet nameščen izvor naravne ali umetne svetlobe, ki ga optični sistem (kondenzor) razširi v širok enakomeren snop, s katerim presvetlimo predmet. Ostrino slike nastavljamo s spreminjanjem razdalje med objektivom in okularjem. Pri mnogih mikroskopih je na vrtečem se nosilcu (revolver) nameščeno več objektivov, ki jih z zasukom menjamo in tako izbiramo povečavo. Optični mikroskopi zaradi napak preslikave navadno ne presežejo 2000-kratne povečave. Ločljivost je omejena z uklonom svetlobe, ki je v zvezi z valovno dolžino svetlobe: sosednji točki na predmetu ločeno zaznamo le, če je razdalja med njima veliko večja od valovne dolžine svetlobe, s katero ju opazujemo. Ločljivost nekoliko izboljšajo z imerzijo. Povečave, ki so večje od 1000-kratne numerične aperture objektiva, ne izboljšajo slike in ne preslikajo novih detajlov (prazna povečava). Številni predmeti so premalo kontrastni za preslikavo (npr. nekatere celice in njihove podrobnosti), zato jih je treba obarvati (mikroskopija). S povečanjem kontrasta lahko opazujejo mnoge žive mikroorganizme. Ločljivost in povečavo poveča uporaba kratkovalovne svetlobe (ultavijolični mikroskop). V tem primeru slik ne moremo opazovati s prostim očesom, temveč jih moramo fotografirati. Polarizacijski mikroskop uporabljamo za raziskave obdelave površin in merjenje debelin. Fluorescenčni mikroskopi delujejo z vzbujeno svetlobo. Elektronski mikroskop zaradi boljše ločljivosti namesto svetlobe uporablja curke hitrih elektronov, ki imajo valovne dolžine (snovno valovanje) znatno manjše od vidne svetlobe. Z njimi so mogoče povečave do 100.000-krat (poljski elektronski mikroskop, rastrski tunelski mikroskop). Mikroskop na atomsko silo (Atomic Force Microscope, kratica AFM) so 1985 izdelali G. Binning, C. Gerber in C. F. Quate. Temelji na merjenju sile med atomi v konici tipala in atomi na površini vzorca. Z njim lahko (v nasprotju s tunelskim mikroskopom) opazujejo tudi površine snovi, ki niso električno prevodne.
Dostopnost